X- ışını spektroskopisi,
X-ışını aralığındaki dalga boyunda fotonların absorpsiyon veya emisyon
spektrumuyla maddenin kompozisyonunu incelemek için uygulanan bir metottur.
Diğer spektroskopik tekniklerdeki gibi,
X-ışını spektroskopisi elektronların bir enerji durumundan diğerine geçişi
sırasında ışığın absorpsiyon veya emisyon spektrumları ile maddenin yapısını
incelemek için kullanılır. Bu metodun spesifik karakteri, X-ışını spektrumların
atomların iç kabuk elektronlarının geçişleriyle ilişkili olmasıdır. X-ışını
absorpsiyon spektrumu, elektronların düşük enerji durumundan yüksek (uyarılmış)
enerji durumlarına, ve X-ışını emisyon spektrumları uyarılmış durumlardan alttaki
seviyelerde birine geçişlerinden kaynaklanır.
Absorpsiyon spektrumlar, kimyasal bileşiklerin boş uyarılmış durumlarının
veya yarıiletkenlerin kondüksiyon bantlarının incelenmesinde kullanılabilir.
EXAFS (genişletilmiş X-ışın absorpsiyon ince yapı) metodu, X-ışını difraksiyon
metodu ile incelenemeyen amorf cisimlerde bile, atomlararası mesafeler gibi
parametrelerin tayinini mümkün kılar.
gevşeme şeması
Şekil-2:
Spektrumlara tipik örnekler; (а) fotoelektronlar, (b) X-ışını absorbsiyon, (c)
X-ışını fluoresans, (d) Auger elektron spektrumlar
