Taramalı Tünelleme Mikroskopi Operasyon Modları (scanning tunnelling microscopy operation modes)

Taramalı tünelleme mlikroskobun (STM) beş ana değişken parametresi vardır. Bunlar yatay koordinatlar x ve y, yükseklik z, bias voltaj V ve tünelleme akımı A dır. Bu parametrelere bağlı olarak STM ölçmelerinin üç temel modu bulunur:

1. Sabit akım modu: STM imajların elde edilmesinde en çok kullanılan mod sabit akım modudur. Bu modda, voltaj ve akım sabit tutularak bir iğne örnek yüzeyi boyunca hareket eder. Sabit akımı sabitlenmiş voltajda sürdürebilmek için izleme sistemi, z piexoelektrik elementte voltajı (Vz) değiştiren iğnenin dikey pozisyonunu sürekli olarak ayarlar. İdeal durumda (homojen bir yüzeyin) sabit akımın anlamı, uç ve yüzey arasındaki sabit bir boşluktur (gap) (Şekil-a). Yüzey element yüksekliği doğrudan Vz’den tayin edilir. Elde edilen ölçümlerle iğne konumunun fonksiyonu olarak yüzey topoğrafyası elde edilir z(x, y).

2. Sabit yükseklik modu (akım görüntüleme modu da denir): Sabit yükseklik modunda yüzey iğneyle sabit bir voltajjda (piezoelektrik elementte) taranır, bu sırada iğne konumunun fonksiyonu olarak tünelleme akımı I ölçülür (Şekil-b). Uç ve örnek arasındaki voltaj V sabit tutulur, ve servo sistem geribesleme kapatılır. Bu durumda yüzey bombesi nedeniyle daha yüksek tünelleme akımına gerek olur. Bu modda, sabit akım moduyla kıyaslandığında, tarama hızı daha yüksektir; çünkü, servo sistem iğnenin altındaki yüzeyde bulunan tüm özelliklere tepki vermek durumunda değildir. Bu modun dezavantajı tünelleme akım değişikliklerinden yüzey topoğrafyası nicelleştirilmesinin  güçlüğüdür.

3. Taramalı tünelleme spektroskopi (STS); V değişirken modların tümü. Taramalı tünelleme spektroskopisi (STS), uç ve örnek arasındaki voltajın değiştirilmesiyle örnek yüzeyinin lokal elektronik yapısıyla ilgili bilgilerin elde edildiği bir dizi taramalı tünelleme mikroskopi metotlarıdır.



Bir taramalı tünelleme mikroskobun, (a) sabit akım modunda, ve (b) sabit yükseklik modunda çalışmasının şematik gösterimleri