Prob, geniş anlamda, bir sensör, bir ölçme elementi, sinyal
verici (sinyalizasyon), kontrol edilen parametreyi kolay kullanımlı bir sinyale
dönüştüren kontrol cihazı/ sistemi veya düzenleyicidir.
Nanoteknolojide ‘prob’ terimi, genel olarak incelenen
yüzeyle etkileşime giren mikroskop ucu anlamına gelir. Probun tasarımı, şekli
ve malzemesi, mikroskobun çalışma prensibi ile belirlenir ve farklı tarama
sistemli mikroskopları için farklılık gösterir.
Prob (veya sabit bir probun altındaki numune) genel olarak
bir piezoelektrik tüp ile hareket ettirilir. Bu tür tarayıcılar üç dikey
eksenden herhangi birinde (x, y, z) hareket ettirilecek şekilde tasarlanmıştır.
Sensör verileri prob-yüzey etkileşiminin bir görüntüsünü oluşturur. Sensörden
gelen geribildirim, probu obje yüzeyinden sabit bir kuvvette veya mesafede
tutmak için kullanılır. Atomik kuvvet mikroskopisinde sensör, konsolun üst
kısmına odaklanmış bir lazer demetinden yansıma açısını kaydeden konuma duyarlı
bir fotodetektördür (Şekil)
Tarama tünelleme mikroskopisinde en çok kullanılan prob,
elektrokimyasal aşındırma ile üretilen bir tungsten iğnesidir. Atomik kuvvet
mikroskopisinde prob, esnek bir mikrokonsola (cantilever) monte edilmiş bir
mikronoktadır. Magnetik etkileşimleri kaydetmek için magnetik malzemeden
yapılmış bir uç kullanılır.
Prob bir piezoelektrik tüp ile hareket ettirilir
